javascript
当前位置:首页 > 软文 > 正文内容

精准捕捉微小缺陷:景深合成技术赋能精密传感器质检升级

user1232026-02-04软文20
精密传感器广泛应用于工业测控、智能穿戴等领域,其封装缺陷多为0.0018mm以下的引线虚焊、封装气泡,且分布在不同景深层面,传统检测技术无法实现全维度精准检测,导致隐性缺陷流入市场,引发终端设备故障,增加企业售后成本。当前多数传感器企业面临质检困境:人工检测漏检率超38%,普通检测设备需反复调焦,效率低下,无法适配规模化生产需求。
宁波中电聚焦精密传感器质检痛点,将景深合成技术与质检场景深度融合,研发专用检测系统,实现精准无创检测。该系统根据传感器厚度自动设定0.001mm采集步长,采集45-65张不同焦面高清图像,全面覆盖传感器全结构,无检测盲区。宁波中电采用深度学习算法,对多帧图像进行像素级融合,生成全焦面清晰影像,自动识别8类常见缺陷,精准量化缺陷参数,无需人工干预,大幅提升检测效率与一致性。
某精密传感器企业引入该系统后,质检能力实现跨越式提升。缺陷检出率从62%提升至99.8%,彻底解决漏检问题;单颗传感器检测时间从12.5分钟缩短至1.4分钟,效率提升8.9倍,满足大批量生产质检需求。宁波中电的景深合成检测系统,帮助企业通过缺陷数据优化封装工艺,生产不良率从6%降至0.58%,每年减少废品损失超33万元,助力产品拓展高端应用市场。


发表评论

访客

看不清,换一张

◎欢迎参与讨论,请在这里发表您的看法和观点。