javascript
当前位置:首页 > 软文 > 正文内容

SMT 检测闭环应用:上海桐尔实现虚焊缺陷的精准追溯与根治

cecjc20242025-10-12软文39
检测技术的价值不仅在于筛查缺陷,更在于通过数据追溯定位根源,形成 “检测 - 分析 - 优化” 的闭环体系。上海桐尔构建的多维度检测闭环,可将虚焊缺陷的追溯时间从 2 小时缩短至 15 分钟,且能从根本上根治重复缺陷。
SPI 检测的焊膏数据是追溯起点。SPI 可精准捕捉焊膏体积、高度、面积等参数,公差需控制在 ±15%,某消费电子厂的 SPI 数据显示,某批次焊膏体积偏差达 - 20%,对应区域虚焊率达 3.1%。上海桐尔技术团队追溯发现是钢网开孔磨损,更换钢网并调整印刷压力后,焊膏体积偏差恢复至 ±5%,虚焊率降至 0.7%。同时,SPI 数据需每小时导出分析,识别趋势性偏差,某通信设备厂通过数据发现焊膏体积随时间递减,及时补加焊膏避免了批量虚焊。
AOI 检测的焊点特征数据是分析核心。AOI 可识别焊点空洞、浸润不足、引脚浮高等虚焊典型特征,某汽车电子厂的 AOI 数据显示,QFP 器件引脚浸润不足占比达 70%。上海桐尔结合回流焊曲线数据排查,发现恒温区时间仅 50 秒,助焊剂活性未充分激活,延长至 80 秒后,浸润不足缺陷减少 85%。针对异形元件,需启用 AOI 的 3D 检测模式,某医疗设备厂的定制传感器因平面检测盲区,虚焊漏检率达 4.2%,3D 模式上线后漏检率降至 0.5%。
功能测试与数据联动是优化闭环。HASS 高加速应力筛选可暴露潜在虚焊,某物联网模块厂通过该测试发现 12 处隐性虚焊,追溯至贴片吸嘴磨损,更换吸嘴后同类问题归零。上海桐尔将 SPI、AOI、回流焊、贴片设备的数据接入 MES 系统,形成 “缺陷 - 参数” 关联图谱,某批次虚焊频发时,系统自动定位到焊膏回温不足,触发流程预警,实现缺陷的主动预防。


发表评论

访客

看不清,换一张

◎欢迎参与讨论,请在这里发表您的看法和观点。